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ST-20掌上型方塊電阻測(cè)試儀
更新時(shí)間：2020-05-21   點(diǎn)擊次數(shù)：750次
ST-20掌上型方塊電阻測(cè)試儀是一種依照類似的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)，專門測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新型儀器，可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。
 
◆ 特點(diǎn)：

1

 采用九十年代推出的大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分，測(cè)量準(zhǔn)確穩(wěn)定

2

 低功耗

3

 采用單個(gè)電池供電，帶電池欠壓指示

4

 儀器體積僅為：130mmX65mm X23mm

5

 特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測(cè)材料及保護(hù)薄膜

6

 探頭帶抗靜電模塊
 
◆ 技術(shù)指標(biāo)：
 

測(cè)量范圍

基本量程：方塊電阻10.0-199.9(Ω/口)
擴(kuò)展量程：方塊電阻100-1999(Ω/口)

測(cè)量不確定度

≤5%

探針規(guī)格

 探針間距：3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ

恒流源

 測(cè)量過(guò)程誤差：≤±0.8%

電源

 9V疊層電池1節(jié)
深圳市偉峰儀器儀表有限公司

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